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<div class="text-[20px] font-[500] text-333 mt-[15px]">艾诺产品可靠性介绍</div>
<div class="text-[14px] text-333 mt-[10px]">可靠性是预测的，可验证的。可靠性试验，实际上是用应力和应力作用的时间，以此来激发产品潜在的各种缺陷，帮助确定根本原因。在半导体器件中，一些常见的加速器是温度、湿度、电压、电流。在大多数情况下，加速测试不会改变故障的物理场，但它确实改变了观察的时间。加速和使用条件之间的转换称为“降额”。以下为典型的IC产品的生命周期曲线，可以用一条“浴缸曲线”来表示：</div>
<div class=" text-center">
  <img :src="浴缸曲线图.src" alt="" class="w-[728px] inline-block">

</div>
 <div class="grid grid-cols-3 mt-[20px] mb-[30px]">
  <div v-for="item in  itemList">
  <div class="text-[16px] text-333 mb-[10px]">{{ item.title }}</div>
  <div class="text-[14px] text-333 w-[297px]">{{ item.des }}</div>
  </div>
 </div>
</div>
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<script setup>
import 浴缸曲线图 from '@assets/qualityControl/浴缸曲线图.png'
import {ref} from 'vue'
const itemList = ref([
  {
    title: '1）早期故障率阶段',
    des: '此阶段的特点是初始故障率相对较高，然后迅速下降。此阶段的故障率通常按“每百万缺陷数”(dppm)进行衡量。'
},
{
    title: '2）稳定状态阶段',
    des: '此阶段具有相对恒定的故障率，在器件的使用寿命期间保持稳定。按“FIT”单位或“故障间隔平均时间”(MTBF)小时数描述此故障率'
},
{
    title: '3）损耗阶段',
    des: '此阶段代表内在损耗机制开始居主导地位的点，故障率开始呈指数上升。产品寿命通常定义为从初始生产至损耗开始的时间。'
},
])
</script>